露探の英語

エバネッセント光を検知または照射する探針、該探針の製造方法、及びこれらの探針によって構成された表面観察装置、露光装置と該露光装置による光学素子、情報処理装置例文帳に追加

PROBE FOR DETECTING OR PROJECTING EVANESCENT LIGHT, ITS MANUFACTURING METHOD, SURFACE OBSERVATION DEVICE CONSTITUTED OF IT, EXPOSURE DEVICE, OPTICAL ELEMENT COMPOSED OF THE SYSTEM, AND INFORMATION PROCESSOR - 特許庁

真空中のクリーニング室５内で測定探針の酸化膜を除去した後に探針を大気に暴露させることがない。例文帳に追加

The probe is not exposed to the atmosphere after removing an oxide film on a measuring probe in the vacuum cleaning chamber 5. - 特許庁

露出型熱電対１０のホットジャンクション４０をインピーダンス探子として用いる。例文帳に追加

A hot junction of an exposed thermoelectron pair 10 is used as an impedance probe. - 特許庁

ウエハの再度マーク探索を行う作業性が向上する露光装置、露光装置のプログラム、その露光装置を用いるデバイス製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide an exposure device wherein workability for searching again a mark of a wafer is improved and to provide a program of the exposure device and a device manufacturing method using the exposure device. - 特許庁

探索範囲変更部１１は、撮像素子３の露光時間に基づいて、動きベクトルの探索範囲の広さを変更する。例文帳に追加

A search range changing part 11 changes the width of a search range of the motion vector on the basis of the exposure time of the imaging element 3. - 特許庁

例えば、探索範囲変更部１１は、撮像素子３の露光時間が長いほど、動きベクトルの探索範囲を狭くする。例文帳に追加

For example, the search range changing part 11 narrows the search range of the motion vector as the exposure time of the imaging element 3 is longer. - 特許庁

真空中のクリーニング室５内で測定探針の酸化膜を除去した後に探針を大気に暴露させることがない。例文帳に追加

After removing an oxidation film of the measuring probe in the cleaning chamber 5 in vacuum, the probe is not exposed to the atmosphere. - 特許庁

好ましくは、大気暴露することなく、イオン源等を用いたドライ処理により探針先端部の酸化膜を除去し、探針を探針収納容器に収容する。例文帳に追加

Preferably, an oxide film is removed from the tip end of the probe without exposing the probe in the atmosphere through dry processing using an ion source or the like, and the probe is housed in the probe housing container. - 特許庁