膜理論の英語

Ｍｉｅの散乱理論で計算される顔料粒子分散膜の屈折率と、該顔料粒子分散膜の光学的に測定される屈折率とが一致するように、Ｍｉｅの散乱理論の計算に仮定した顔料粒子の屈折率を顔料粒子の屈折率とする。例文帳に追加

The pigment grain refraction factor presumed for calculation by Mie scattering theory is to be the pigment grain refractive index, at which the pigment grain dispersed film refraction factor calculated by Mie scattering theory and the optically measured refractive index of the same agree with each other. - 特許庁

多層膜構成のＸ線全反射ミラーの実際の反射率は、各層の吸収が少ないために、単層膜構成のＸ線全反射ミラーに比べて理論値に近い。例文帳に追加

The actual reflectivity of an X-ray total reflection mirror with a multi-layer structure is more approximate to the theoretic value than that of an X-ray total reflection mirror with a single-layer structure because each layer absorbs less X rays. - 特許庁

そして、薄膜凸部、薄膜凹部、および、薄膜凸部と薄膜凹部との間の中間部の形状を表すパラメータ群に含まれる各パラメータを有効膜厚にて表現し、有効膜厚を変更することにより各パラメータの値を変更して理論スペクトルの測定スペクトルに対するフィッティングが行われる。例文帳に追加

Respective parameters, included in a parameter group indicating shapes of the thin film convexities, the thin film concavities, and intermediate parts between the thin film convexities and the thin film concavities, are represented by an effective film thickness, and the respective parameter values are changed by changing the effective film thickness, to perform fitting of a theoretical spectrum to a measurement spectrum. - 特許庁

抽出分光反射スペクトルと理論分光反射スペクトルとに生じる差異に基づき第２の薄膜による影響を求めることができ、これにより第１の薄膜と第２の薄膜との開口比を求めることができる。例文帳に追加

An influence by the second thin film is found based on the difference between the extracted spectroscopic reflection spectrum and the theoretical spectroscopic reflection spectrum to find the opening ratio of the first thin film to the second thin film. - 特許庁

前記透明薄膜形成用材料は、成膜用ターゲットであり、気孔率が理論密度比で５％以下のスパッタリングターゲットであり、体積抵抗が１０^−２Ω・ｃｍ以下である。例文帳に追加

The material for forming the transparent thin film produced from the composite oxide sintered compact is a target for forming a film, is a sputtering target having a porosity of 5% or less in a theoretical density ratio and has a volume resistance of 10^-2 Ω cm or less. - 特許庁

前記測定スペクトラムと複数の理論的スペクトラムとを比較して前記多層膜の各構成薄膜の暫定厚さを決定し（Ｓ１８）、前記暫定厚さの信頼度が許容誤差範囲に含まれる場合には（Ｓ２０）、前記暫定厚さを前記多層膜の各構成薄膜の厚さとして出力する（Ｓ２４）。例文帳に追加

The measurement spectra are compared with the plurality of theoretical spectra to determine the tentative thickness of each configuration thin film of the multilayer film (S18). - 特許庁

コントローラ３には、あらかじめ、抽出対象となる各回折光の理論上の強度と膜厚との関係を示すテーブルが設定されており、これら回折光の理論上の強度がラインＣＣＤ１０により抽出された回折光の強度に最も近くなる場合の膜厚を求め、これを測定対象の基板１１の膜厚として特定する。例文帳に追加

A table indicating the relationship between the theoretical intensity of each diffracted light to be extracted and film thickness is previously set in a controller 3, and a film thickness in the case that the theoretical intensity of the diffracted light is closest to the intensity of the diffracted light extracted by the line CCD 10 is obtained and specified as the film thickness of the substrate 11 to be measured. - 特許庁

既知の膜厚の標準試料についてあらかじめ求めておいたスケール因子を用いて，配向密度分布関数ρの特性パラメータと，薄膜の膜厚ｔとを変化させて，理論ロッキングカーブが測定ロッキングカーブに最も合致するように，パラメータフィッティングを実施し，これによって膜厚ｔを決定する。例文帳に追加

Using a scale factor found beforehand concerning a standard substance of an already-known film thickness, parameter fitting is performed so that the theoretical rocking curve may coincide most with a measured rocking curve, by changing the characteristic parameters of the distribution function ρ and the thickness (t) of the thin film, and consequently the film thickness (t) is determined. - 特許庁