微分学の英語
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英訳・英語 differential calculus
「微分学」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 76件
微分学例文帳に追加
differential calculus - Eゲイト英和辞典
微分学と積分学例文帳に追加
differential and integral calculus発音を聞く - EDR日英対訳辞書
微分幾何学という学問例文帳に追加
a study called differential geometry発音を聞く - EDR日英対訳辞書
微分干渉光学系例文帳に追加
数学的微分の結果例文帳に追加
the result of mathematical differentiation発音を聞く - 日本語WordNet
数学で,微分と積分例文帳に追加
the mathematic studies of differential calculus and integral calculus発音を聞く - EDR日英対訳辞書
微分干渉光学系、及び微分干渉光学系を有する光学装置例文帳に追加
DIFFERENTIAL INTERFERENCE OPTICAL SYSTEM AND OPTICAL DEVICE HAVING DIFFERENTIAL INTERFERENCE OPTICAL SYSTEM - 特許庁
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「微分学」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 76件
関数の微分係数を求める数学法例文帳に追加
the mathematical process of obtaining the derivative of a function発音を聞く - 日本語WordNet
微分が発達しなかった為、和算では微分積分学の基本定理がなかった。例文帳に追加
Because the concept of differentials was not developed, there was no fundamental theorem of calculus in wasan.発音を聞く - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
数学教師が偏微分の概念について説明した。例文帳に追加
The math teacher explained the concept of partial differentiation. - Tatoeba例文
計算物理学では、後退微分公式(BDF)法は、偏微分方程式の空間離散化に起因する常微分方程式の系を解くために人気がある。例文帳に追加
In computational physics, the backward differentiation formula (BDF) methods are popular in order to solve the system of ordinary differential equations which results from the space discretization of partial differential equations.発音を聞く - コンピューター用語辞典
極限値、および関数の微分と積分に関する数学の分野例文帳に追加
the branch of mathematics that is concerned with limits and with the differentiation and integration of functions発音を聞く - 日本語WordNet
章の終わりの問題は微分法を含む数学法の例題だった例文帳に追加
the problems at the end of the chapter demonstrated the mathematical processes involved in the derivation発音を聞く - 日本語WordNet
流体力学,熱力学,材料力学など製品に求められる物理的な条件は微分方程式で現される。例文帳に追加
In the method, a physical condition requested for the product such as hydrodynamics, thermodynamics, or material mechanisms is represented by a differential equation. - 特許庁
表面欠陥検査装置は、被検査物1の微分干渉光学像を形成する微分干渉光学系と前記微分干渉光学像を撮像して微分干渉画像を得る撮像部とを有する微分干渉画像取得部2と、前記微分干渉画像を処理して、被検査物1の表面における欠陥を検出する処理部3と、を備える。例文帳に追加
A surface defect inspection device includes a differential interference image acquisition part 2 containing a differential interference optical system for forming a differential interference optical image of the workpiece 1 and a photographing part for acquiring a differential interference image by photographing the differential interference optical image, and a processing part 3 for processing the differential interference image and detecting the defect on the surface of the workpiece. - 特許庁
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