副欠陥の英語

また、１つの画素は予備導電ポートと溶融可能な接合部をもつ複数の副画素を備えることができるので、欠陥電極を分離できる。例文帳に追加

Moreover, since a single pixel can be provided with plural sub-pixels having connection parts fusible with back-up conductive ports, a defective electrode can be separated. - 特許庁

欠陥のある機能又は副機能単位は、アセンブリの後、電力駆動の際、周期的な動作の際、及び／又は手動によって検出されることができる。例文帳に追加

The defective function or subordinate functional unit can be detected after assembly, in power driving, in cyclic operation, and/or manually. - 特許庁

主・副走査方向に必要な分解能と所定の走査速度（露光速度）を得ると共に、照明ムラ、画素欠陥の補正機能を得ることを課題とする。例文帳に追加

To obtain required resolution and prescribed scanning velocity (exposure velocity) in a main scanning direction and a subscanning direction and further to obtain a compensation function of illumination unevenness and pixel defect. - 特許庁

これによって、大口径の半導体単結晶塊の一部に欠陥が含まれていても、その欠陥を除く部分から切り出された小口径の半導体単結晶塊を利用し得るという副次的効果をも得ることができる。例文帳に追加

By this method, a secondary effect capable of utilizing the semiconductor single crystal lump having the small diameter cut from the flaw-removed part of the semiconductor single crystal lump having the large diameter can be obtained even if a flaw is contained in a part of the semiconductor single crystal lump having the large diameter. - 特許庁

その番地が付された９個の副領域のうちで欠陥が存在しないものの総数ｄと、その番地が付された９個の副領域のうちで欠陥が存在せず且つ「良好」となったものＰの総数ｅとから、番地毎のｅ／ｄの値ｆ（Ｎｏｎ Ｋｉｌｌｅｒ Ｒａｔｅ）を求める。例文帳に追加

Then, the value (f) (Non Killer Rate) of e/d in each addresses are obtained from a total number (d) of the addresses wherein defects do not exist among 9 pieces of sub regions, provided with addresses and the total number (e) of (P) of addresses, wherein no defect exists among 9 pieces of sub regions provided with the addresses. - 特許庁

シェーディング補正板の欠陥位置を特定するために、複数の副走査方向の位置からシェーディング補正用データを作成し、同じく複数の副走査方向の位置でシェーディング補正を実施した結果と、再度複数の副走査方向の位置でシェーディング補正実施した結果を比較することによって、シェーディング補正板上の欠陥位置を特定する。例文帳に追加

The method includes a step of generating shading correction data from a plurality of positions in the subscanning direction in order to identify defective positions of the shading correction plate and a step of comparing the result of shading correction at a plurality of positions in the subscanning direction with a result of 2nd shading correction at a plurality of the positions in the subscanning direction to identify a defective position on the shading correction plate. - 特許庁

このとき、副キャビティ内の溶湯は低圧状態で凝固するため、鋳造欠陥が発生する恐れがあるが、副キャビティ内で成形される部分は製品とは関係がないため、問題とならない。例文帳に追加

Although at this time there is a possibility that casting defects may occur because the molten metal in the sub-cavity solidifies in a low pressure state, it will not be a problem since the portion molded in the sub-cavity has no bearing upon the product. - 特許庁

暗点欠陥の原因となる分解物質や副生成物などのゴミが成膜中に混入することを抑制し、さらに蒸着レートの低下を防ぐことを目的とする。例文帳に追加

To suppress the intrusion of garbage such as decomposed matter and by-products causing a black point defect during film deposition; and to prevent the reduction of a vapor deposition rate. - 特許庁