二測点の英語

化合物の熱力学的値を測定する際に、得られる測定値を計測し、測定値に基づいて、ガラス転移点、二次相転移点、及びショットキー型熱異常点を正確に測定する方法及び装置の提供。例文帳に追加

To provide a method and an apparatus for measuring thermodynamic values of a compound and accurately measuring glass transition point, secondary phase transition point and Schottky thermal abnormality point from the measured values. - 特許庁

最頻点抽出処理１１２は抽出した計測点データから最小二乗法で直線を作成し計測点と直線との差を作成する。例文帳に追加

In most frequent point extracting processing 112, a straight line is prepared by the least square method from the extracted measurement point data, and difference between the measurement point and the straight line is prepared. - 特許庁

離間した二点を測定するための二つのプローブ１２は、単一の保持具１６により保持されている。例文帳に追加

Two probes 12 for measuring the two separated points are retained by a single retainer 16. - 特許庁

熱流計式多点温度測定法による二次元異方性物質の主軸熱物性値測定方法およびその測定装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING PRINCIPAL AXIS THERMOPHYSICAL PROPERTY VALUE OF TWO-DIMENSIONAL ANISOTROPIC SUBSTANCE USING HEAT FLOWMETER TYPE MULTIPOINT TEMPERATURE MEASURENT METHOD - 特許庁

２つの衛星ａ，ｂから送信された信号のドップラーシフト周波数を基準点ｆと測位点ｍとで観測し、その観測によるドップラシフト周波数の観測二重差を求め、基準点ｆと測位点ｍの位置、２つの衛星ａ，ｂの位置および速度に基づいてドップラーシフト周波数の計算二重差を求める。例文帳に追加

A calculation double difference of the Doppler shift frequency is found based on the positions of the reference point (f) and positioning point (m), and on the positions and speeds of the two satellites (a) and (b). - 特許庁

顔位置のコントラスト値に最も近いコントラスト値の二次測距点を選択する（Ｓ２１１）。例文帳に追加

The secondary ranging point with a contrast value which is closest to the contrast value of the face position is selected (S211). - 特許庁

温度コントローラの二つの設定点が、測定された湿度の関数として調節される。例文帳に追加

The two set points of the temperature controller are controlled as a function of measured humidity. - 特許庁

基準点Ｏ側には測量機１１を配置し、測定点Ｐ側には二つの信号反射器（上部信号反射器４３Ａと下部信号反射器４３Ｂ）を備えた測定点指示具４２を配置する。例文帳に追加

A surveying instrument 11 is arranged to a reference point O side, and at a measuring point P side, a measuring point indication implement 42 having two signal reflectors (upper signal reflector 43A and lower signal reflector 43B) is arranged. - 特許庁