ポゴの英語

コンタクトピンが接続されるポゴ座群が形成された配列基板２１０が設けられている。例文帳に追加

Arrangement board 210 is set up on which pogo seat groups connected with contact pins are formed. - 特許庁

コンタクトピン（ポゴピン３）の先端９と、電極パッド（ポゴ座１）の凹部５は、それぞれ錐状に形成されている。例文帳に追加

The tip 9 of the contact pin (pogo pin 3) and the recess 5 of the electrode pad (pogo seat 1) are formed to be truncated, respectively. - 特許庁

配線基板１１上面のポゴ座１４、これに電気接続する配線基板１１下面のポゴ座用接続ランド１５、配線基板１１上面のコネクタ１６、これに電気接続する配線基板１１下面のプローブ用接続ランド１７が形設されている。例文帳に追加

Tester lands 14 on the upper surface of the wiring substrate 11, tester land connection lands 15 electrically connecting thereto, that are on the lower surface of the wiring substrate 11, connectors 16 on the upper surface of the wiring substrate 11, and probe connection lands 17 electrically connecting thereto, that are on the lower surface of the wiring substrate 11 are built. - 特許庁

電子部品検査装置は、複数の電極パッド（例えば、ポゴ座１）を有する検査用ボード２と、複数のコンタクトピン（例えば、ポゴピン３）を有するＩＣソケットと、を備える。例文帳に追加

An apparatus for inspecting an electronic component includes an inspection board 2 having a plurality of electrode pads (pogo seats 1, for example) and an IC socket having a plurality of contact pins (pogo pins 3, for example). - 特許庁

そして、配線基板１１と基板保持部材１２の間の空隙１２ｃに、ポゴ座用接続ランド１５とプローブ用接続ランド１７を接続するジャンパー線１８が配設してある。例文帳に追加

Further, a jumper wire 18 for connecting the tester land connection lands 15 and the probe connection lands 17 are arranged at the gap 12c between the wiring substrate 11 and the substrate holding member 12. - 特許庁

複数のコンタクトピン（ポゴピン３）の各々は、一端が電子部品の複数の端子のうちの対応する端子とそれぞれ接触し、他端である先端９がそれぞれ対応する電極パッド（ポゴ座１）に形成された凹部５に嵌入される。例文帳に追加

Each of the plurality of contact pins (pogo pins 3) has one of ends coming into contact with a corresponding terminal among a plurality of terminals of an electronic component, and a tip 9 at the other end is fitted into a recess 5 formed at each of corresponding electrode pads (pogo seats 1). - 特許庁